ГлавнаяКаталогИзмерение волоконной оптики и интегральной фотоникиИсточники излучения для оптических измеренийЛабораторные непрерывно перестраиваемые лазеры ИК-диапазонаSSP-TLS – перестраиваемые лазерные источники для O-, E-, S-, C-, L-, U- и L+U-диапазонов
SSP-TLS – перестраиваемые лазерные источники для O-, E-, S-, C-, L-, U- и L+U-диапазонов
Перестраиваемые лазерные источники SSP-TLS предназначены для измерения спектральных характеристик оптических компонентов и испытаний волоконно-оптических систем. Серия включает настольные источники и встраиваемые лазерные модули.
- Семь вариантов рабочего диапазона: O, E, S, C, L, U и L+U.
- Тип A: узкополосное излучение, ширина линии <100 кГц.
- Тип B: пониженная когерентность, ширина линии 0,1–0,3 нм.
- Настольные исполнения типов A/B и встраиваемые модули типа A.
Перестраиваемые лазерные источники SSP-TLS предназначены для измерения спектральных характеристик оптических компонентов, испытаний приёмопередатчиков и работы в волоконно-оптических измерительных системах. Серия включает настольные источники типов A и B, а также компактные лазерные модули типа A для интеграции в измерительное оборудование. Рабочий диапазон определяется выбранной моделью.
Особенности:
- Электронная перестройка длины волны без механически перемещаемых элементов.
- Непрерывный режим генерации.
- Исполнения с высокой и пониженной когерентностью.
- Калибровка длины волны и регулировка выходной мощности.
- Настольные и встраиваемые исполнения.
- Дистанционное управление и синхронизация с измерительным оборудованием.
Тип B отличается увеличенной шириной спектральной линии и пониженной когерентностью. Предназначен для измерения спектральной чувствительности фотодетекторов, контроля оптических покрытий и мониторинга технологических процессов.
Встраиваемые модули типа A предназначены для интеграции в приборы и пользовательские измерительные системы. Они используют встроенный эталон длины волны на основе атермального интерферометра.
Модельный ряд
| Спектральный диапазон | Диапазон перестройки, нм | Настольный источник, тип A | Настольный источник, тип B | Встраиваемый модуль, тип A |
|---|---|---|---|---|
|
O
|
1250–1350 | SSP-TLS-01 | SSP-TLS-06 | SSP-TLS-19 |
|
E
|
1350–1450 | SSP-TLS-02 | SSP-TLS-07 | SSP-TLS-20 |
|
S
|
1450–1530 | SSP-TLS-03 | SSP-TLS-08 | SSP-TLS-21 |
|
C
|
1520–1580 | SSP-TLS-04 | SSP-TLS-09 | SSP-TLS-38 |
|
L
|
1580–1620 | SSP-TLS-32 | SSP-TLS-34 | SSP-TLS-39 |
|
U
|
1620–1680 | SSP-TLS-33 | SSP-TLS-35 | SSP-TLS-40 |
|
L+U
|
1580–1650 | SSP-TLS-05 | SSP-TLS-10 | SSP-TLS-23 |
Выходная мощность
| Спектральный диапазон | Настольный источник, тип A, дБм | Настольный источник, тип B, дБм | Встраиваемый модуль, тип A, дБм |
|---|---|---|---|
|
O
|
≥10 | ≥10 | ≥10 |
|
E
|
≥9 | ≥9 | ≥9 |
|
S
|
≥7 | ≥7 | ≥7 |
|
C
|
≥10 | ≥10 | 8–12 (тип.) |
|
L
|
8–12 (тип.) | 8–12 (тип.) | 8–12 (тип.) |
|
U
|
8–12 (тип.) | 8–12 (тип.) | 8–12 (тип.) |
|
L+U
|
≥10 | ≥10 | ≥8 |
Для SSP-TLS-06–10 указана минимальная суммарная выходная мощность. Распределение мощности между выходами согласовывается для выбранной конфигурации. Значения 8–12 дБм являются типовыми для семейства и не обозначают гарантированный минимум конкретного исполнения.
Технические характеристики SSP-TLS-01–10, SSP-TLS-19–21 и SSP-TLS-23
| Параметр | SSP-TLS-01–05 | SSP-TLS-06–10 | SSP-TLS-19–21, SSP-TLS-23 |
|---|---|---|---|
|
Исполнение
|
Настольный источник | Настольный источник | Встраиваемый модуль |
|
Тип
|
A | B | A |
|
Режим генерации
|
Непрерывный | Непрерывный | Непрерывный |
|
Ширина линии, FWHM
|
<100 кГц | 0,1–0,3 нм | <100 кГц |
|
Стабильность мощности, дБ
|
±0,05 | ±0,004 | ±0,05 |
|
Повторяемость мощности, дБ
|
±0,01 | ±0,01 | ±0,01 |
|
Точность установки длины волны, пм
|
±5 | ±10 | ±5 |
|
Повторяемость длины волны, пм
|
±3 | ±3 | ±3 |
|
Стабильность длины волны, пм
|
≤5 | ≤5 | ≤5 |
|
Разрешение настройки длины волны, пм
|
≤1 | ≤1 | ≤1 |
|
Отношение сигнала к ASE, дБ
|
≥70 | ≥70 | ≥70 |
|
Скорость сканирования, нм/с
|
400; при непрерывном сканировании до 800 | 400; при непрерывном сканировании до 800 | 400; при непрерывном сканировании до 800 |
|
Время перестройки длины волны, мс
|
50 | 50 | 50 |
|
Режимы настройки
|
Ручная настройка; непрерывное и пошаговое сканирование | Ручная настройка; непрерывное и пошаговое сканирование | Ручная настройка; непрерывное и пошаговое сканирование |
|
Интерфейс
|
RS232/UART | RS232/UART | RS232/UART |
Для SSP-TLS-01–05 длина волны калибруется по положению спектрального максимума, для SSP-TLS-06–10 – по средней длине волны.
Для SSP-TLS-19–21 и SSP-TLS-23 время прогрева составляет 30 мин, габаритные размеры – 140 × 90 × 26 мм.
Параметры стабильности и точности нормированы после прогрева при температуре 25 ±1 °C, выходной мощности >0 дБм и измерениях в течение 1 ч. Повторяемость определяется по 100 измерениям при тех же температуре и мощности. ASE измеряется в спектральной полосе 0,1 нм.
Технические характеристики SSP-TLS-32–35 и SSP-TLS-38–40
| Параметр | SSP-TLS-32, SSP-TLS-33 | SSP-TLS-34, SSP-TLS-35 | SSP-TLS-38–40 |
|---|---|---|---|
|
Исполнение
|
Настольный источник, тип A | Настольный источник, тип B | Встраиваемый модуль, тип A |
|
Режим генерации
|
Непрерывный | Непрерывный | Непрерывный |
|
Ширина линии
|
<100 кГц | 0,1–0,3 нм | <100 кГц |
|
Стабильность мощности, заявленная для семейства, дБ
|
±0,02 | ±0,0043 | ±0,02 |
|
Отношение сигнала к ASE, дБ
|
≥65 | ≥65 | ≥65 |
|
Максимальная скорость сканирования, нм/с
|
400 | 400 | 400 |
|
Интерфейс управления
|
RS232 | RS232 | RS232 |
|
Сигналы синхронизации
|
Trigger Out, Sync Clock Out | Trigger Out, Sync Clock Out | Trigger Out, Sync Clock Out |
Условия нормирования и гарантируемые характеристики выбранного исполнения уточняются при заказе.
- Измерение спектральных характеристик оптических компонентов.
- Тестирование компонентов DWDM, LAN-WDM и CWDM в пределах рабочего диапазона.
- Испытания высокоскоростных оптических приёмопередатчиков.
- Волоконно-оптические измерительные и сенсорные системы.
- Измерение спектральной чувствительности фотодетекторов.
- Контроль оптических покрытий.
- Испытания EDFA в пределах рабочего диапазона источника.
- Мониторинг технологических процессов.







