ГлавнаяКаталогИзмерение волоконной оптики и интегральной фотоникиИсточники излучения для оптических измеренийЛабораторные непрерывно перестраиваемые лазеры ИК-диапазонаSSP-TLS – широкодиапазонные перестраиваемые лазерные источники
SSP-TLS – широкодиапазонные перестраиваемые лазерные источники
Широкодиапазонные перестраиваемые лазерные источники SSP-TLS предназначены для измерений оптических компонентов в нескольких спектральных диапазонах одним источником.
- Диапазон 1250–1650 нм: минимальная выходная мощность ≥4 дБм.
- Диапазон 1250–1680 нм: минимальная выходная мощность ≥3 дБм.
- Тип A: ширина линии <100 кГц.
- Тип B: ширина линии 0,1–0,3 нм.
Широкодиапазонные перестраиваемые лазерные источники SSP-TLS предназначены для измерений оптических компонентов в диапазонах 1250–1650 и 1250–1680 нм. Источники поддерживают непрерывную перестройку между спектральными диапазонами и выпускаются в настольных исполнениях типов A и B.
Особенности:
- Широкое спектральное покрытие одним источником.
- Электронная перестройка без подвижных элементов.
- Непрерывное и пошаговое сканирование.
- Тип A – узкополосное излучение высокой когерентности.
- Тип B – излучение с увеличенной шириной линии и пониженной когерентностью.
- Дистанционное управление.
Тип B отличается увеличенной шириной спектральной линии и пониженной когерентностью. Предназначен для измерения спектральной чувствительности фотодетекторов, контроля оптических покрытий и мониторинга технологических процессов.
Модельный ряд
| Диапазон перестройки, нм | Тип A | Минимальная выходная мощность типа A, дБм | Тип B | Минимальная суммарная выходная мощность типа B, дБм |
|---|---|---|---|---|
|
1250–1650
|
SSP-TLS-15 | ≥4 | SSP-TLS-17 | ≥4 |
|
1250–1680
|
SSP-TLS-16 | ≥3 | SSP-TLS-18 | ≥3 |
Для SSP-TLS-17 и SSP-TLS-18 указана минимальная суммарная выходная мощность. Распределение мощности между выходами согласовывается для выбранной конфигурации.
Технические характеристики
| Параметр | SSP-TLS-15, SSP-TLS-16 | SSP-TLS-17, SSP-TLS-18 |
|---|---|---|
|
Исполнение
|
Настольный источник, тип A | Настольный источник, тип B |
|
Режим генерации
|
Непрерывный | Непрерывный |
|
Ширина линии, FWHM
|
<100 кГц | 0,1–0,3 нм |
|
Стабильность мощности, дБ
|
±0,05 | ±0,05 |
|
Повторяемость мощности, дБ
|
±0,01 | ±0,01 |
|
Точность установки длины волны, пм
|
±5 | ±10 |
|
Повторяемость длины волны, пм
|
±3 | ±3 |
|
Стабильность длины волны, пм
|
≤5 | ≤5 |
|
Разрешение настройки длины волны, пм
|
≤1 | ≤1 |
|
Отношение сигнала к ASE, дБ
|
≥70 | ≥70 |
|
Скорость сканирования, нм/с
|
400; при непрерывном сканировании до 800 | 400; при непрерывном сканировании до 800 |
|
Время пошаговой перестройки, мс
|
50 | 50 |
|
Режимы настройки
|
Ручная настройка; непрерывное и пошаговое сканирование | Ручная настройка; непрерывное и пошаговое сканирование |
|
Интерфейс
|
RS232/UART | RS232/UART |
|
Калибровка длины волны
|
По положению спектрального максимума | По средней длине волны |
Параметры стабильности и точности нормированы после прогрева при температуре 25 ±1 °C, выходной мощности >0 дБм и измерениях в течение 1 ч. Повторяемость определяется по 100 измерениям при тех же температуре и мощности. ASE измеряется в спектральной полосе 0,1 нм.
- Широкодиапазонное тестирование оптических компонентов.
- Испытания компонентов CWDM и DWDM в пределах рабочего диапазона.
- Автоматизированные измерительные системы.
- Измерение спектральной чувствительности фотодетекторов.
- Контроль оптических покрытий.
- Мониторинг технологических процессов.





